岛津能量色散型X射线荧光分析装置 EDX-720

畅销全球的能量色散型X射线荧光分析装置EDX-720

为应对欧洲环境法规（RoHS,ELV）,对微量分析,快速分析提出的更高要求。与以往具有高全球占有率的EDX-700系列相比，进一步实现了高灵敏度和快速化，超出了筛选分析的范畴，可进行微量分析和快速分析，充分满足您的需求。

EDX广泛应用于各个领域。

1．  电气，电子材料

为应对欧洲法规要求的电气，电子部件中环境限制物质的评价，半导体，磁盘，液晶的各种薄膜分析，缺陷解析。

2．  化学工业

无机，有机原料和产品分析，催化剂，颜料，涂料，橡胶，塑料的分析

3．  石油，石油化学

重油中的镍（Ni）,钒（V），硫（S）的分析

润滑油中各种添加元素和混入元素的分析

4．  窑业

陶瓷，水泥，玻璃，砖瓦，粘土的分析

5．  医药

原料，产品的分析和合成时的残留催化剂的分析

硫（S），氯（Cl）,溴（Br）的分析

6．  农业，食品

土壤，肥料，动植物原料，产品以及食品全面的分析

7．  钢铁，有色金属

原材料，合金，焊锡，贵金属的主要成分，杂质的分析

8．  汽车，机械

为应对ELV的汽车部件中环境限制物质的评价

各种机械部件的组成分析和镀层厚度的测定

9．  环境

土壤，污水，焚烧物，过滤器等的组成分析

10．              其他

考古学样品和宝石的成分分析等

X射线照射样品时产生X射线荧光。通过检测产生的X射线荧光可获得元素的种类和含量的信息。可以无损分析各种形态（固体，粉末，液体，薄膜等）的样品。

一．EDX-720的特点：

1．  自动开关式大型样品室

自动开关式大型样品室最大可装300mmφ×150mmH的样品。另外，配置连续测定用的各种样品转台只须按下键，即可全自动测定。

2．  标准配备从无机薄膜分析和有机薄膜厚度的无标样定量分析软件

标准配备定量分析的基本参数（FP）法。不仅配备氧化物，金属，树脂等样品分析的块状FP法，还同时配备了镀层，薄膜厚度，组成分析的薄膜FP法。

3．  标准配置实现高灵敏度分析的5种滤光片

为降低，消除妨碍高灵敏度分析的背景以及特征谱线等的散射X射线而配置了的5种滤光片，因此大幅度提高了对铅（Pb）,汞(Hg)，镉(Cd)等元素的检测灵敏度。

4．  配置依据样品品种的不同而选择最适宜工作曲线的自动选择工作曲线的功能

从预先制作的不同品种的工作曲线中自动选择最适宜被测样品的工作曲线。自动识别在塑胶类样品中是否含有氯(Cl)元素，自动切换应使用的工作曲线。

5．  操作简便，一个指令即可开始全自动测定，即使初学者也可简便，高精度地测定

采用独特的技术，使繁琐的操作自动化。无需专门的知识，经验，技术。

6．  配置按目标管理精度设定测定时间的自动节省时间功能

根据设定的目标管理精度自动确定测定时间。在测定精度达到管理值时自动终止测定。

7．  配备实现快速，高精度的高计数率电路

实现高计数率电路与检测器组合的高精度分析（与以往机型比较提高2倍以上）。不但提高了分析精度，而且在短时间内即可取得与过去机型相同的精度，大幅度地缩短了分析时间。

8．  不需要复杂的前处理就可以在大气，氦气，真空气氛进行分析

对于易受大气吸收影响的轻元素，可以在氦气，真空气氛进行分析。固体样品可在真空氛围进行测定。粉末，液体样品可在氦气氛围进行测定。

（选购功能）

9．  样品图象观察装置（选购件）

在主机上组装彩色CCD装置，可观察样品位置。有效地确认样品分析位置。

二．卓越的基本性能和高超的操作性能

1．原理，特点

   X射线荧光分析法是检测由X射线管发射的X射线照射样品时所产生的二次X射线（X射线荧光），因此可进行无损快速分析。特别是使用半导体检测器的X射线荧光分析装置，一般被称为能量色散型。其最大特点是可进行多元素的同时分析。此外，由于装置内部的驱动系统少，样品与检测器的距离短，因此X射线衰减少，即使在大气中也可进行测定。而且无需繁琐的样品前处理，可对应各种样品的测定。

2．配备灵活对应定量分析的各种功能

 （1）工作曲线法

     ~准确度高的定量分析~

     测定标准样品，依据X射线荧光强度与标准样品的含量的关系制作工作曲线，是进行未知样品定量的分析方法。依据这种分析方法得到广泛的应用，虽然必须选择与未知样品的相近标准样品以及需要每个元素的工作曲线，然而可进行准确度高的分析。    

 （2）FP法

     ~使用岛津开发的软件，不需要标准样品，可适用于块状，薄膜分析和有机物薄膜分析

     根据理论计算而计算出X射线强度的定量方法。在缺乏标准样品的未知样品的定量分析上发挥威力。配置了根据岛津在波长色散型领域长期培育的技术而开发的高性能FP软件。不但配备了适用于氧化物，金属，树脂等样品分析的块状FP法，同时也装备了适用于镀层，薄膜厚度，组成分析的薄膜FP法。

3.通过改进硬件，Pb,Cd等的检测灵敏度提高2倍

    配置新型滤光片，提高Pb,Cd等的灵敏度

      采用2种新滤光片，有效地降低来自X射线管的连续X射线，进一步提高S/N比。将导致检测灵敏度下降的原因之一背景降低到最小限度，可以进行更高灵敏度微量分析。

  4．配置高计数率电路，增加检测器的计数量

     EDX-720对过去使用的计数电路改进一新，通过可就对高计数量的电路与检测器相组合，从而可进行更高精度的测定。

      特别是容易产生散射X射线的树脂样品和主成分容易产生X射线荧光的金属样品，由于计数量的大部分为这些成分所占，是导致难以取得微量元素住处不能提高灵敏度的原因。

      EDX-720的计数量比过去提高2倍以上，从而提高了检测灵敏度。此外，只需一半的测定时间便可取得与以往机型相同的精度，缩短了测定时间。

5．配置新的测定，解析功能，提高分析精度

     增加时间缩短功能，由X射线荧光强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间

     由于未知样品中测定目标元素的含量不明，有时不得不依靠经验设定时间。本功能通过采用依据X射线荧光强度算出理论精度，达到预先设定的精度时测定即结束的系统，提高分析结果的可靠性和分析作业时间的效率。

     使用时间缩短功能测定时，只用30sec就达到目标精度，结束测定。进入下一个分析。

     增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线

     测试塑胶样品时，PVC（聚氯乙烯类）样品和PE（聚乙烯类）样品，由于PVC塑胶中所含氯的吸收效果，产生X射线荧光强度的差异，因此工作曲线相差很大。本功能是将PVC和PE等的工作曲线预先制作在同一条件文件中，根据有无CI自动选择使用的工作曲线。由此，省去了分析者在测定前选择工作曲线作业的麻烦。

三．广泛地应用于各个领域

1．RoHS,ELV法规限制的有害元素的分析

   塑胶类样品的测定

   电源适配件外壳，线材外皮材料，电子仪器机壳等塑胶材料中的有害元素分析例

   金属类样品的测定

   无铅焊锡样品的测定

   （1）通过厚度，形状校正，可高准确度分析非定型样品

     即使含量相同的样品，也会同因样品的形状或厚度不同，X射线的强度有所变化，从而影响定量结果。EDX系列标准配备各种定量校正法，若使用其中的BG内标法，通过消除样品形状和厚度影响的定量度校正计算，可获得准确的结果。

   （2）[BG内标准校正法]

     内标校正是为校正因样品的密度形状，大小而产生的测定强度变化，采用X射线管射出的连续X射线的散射线（=BG），靶材的特性X射线及康普顿散射线的强度比的方法。

   （3）薄膜样品的膜厚分析中的应用

      可应用于利用荧光X射线强度和散射X射线强度的膜厚分析。EDX系列标准配备薄膜FP法，也可用于膜厚及膜附着量的定量分析和组成分析。

   （4）钢种判定的应用

     采用测定数据与用户所登录的各种钢种的谱库数据相比较，即可进行判定。标准配备进行与荧光X射线光谱匹配法，还包括无需购买，测定标准样品的含量匹配法。

四．灵活对应各种样品

   RoHS,ELV法规限制的特定微量有量元素（镉（Cd）,铅(Pb)，汞（Hg），铬（Cr），溴（Br）定量分析，卤互元素[氯（Cl）]也可无标样定量量

  1．5种滤光片自动交换

     测定微量成分时，源自X射线管的连续X射线所产生的散射线形成较大的背景，致使目标峰观测比较困难。此处，如果含有氯（Cl）元素时，与来自X射线管的特性X射线形成干扰，有可能与目标峰形成重叠。

     在这种情况下，如使用滤光片可除掉散射X射线，降低背景以除去干扰线，从而可提高检测灵敏度。通常，在全部测定元素范围的高灵敏度分析中需要4-5种滤光片。

  2．无标准定量

      本公司的EDX系列可理论计算使用滤光片的X射线的吸收，使用本公司独创的FP软件，可进行无需标准样品的定量分析。

      没有这种滤光片的X射线吸收理论计算的装置在使用滤光片时，必须进行标准样品测定，通过再次制作工作曲线才可进行测试。

  3．可灵活应对各种样品形态的功能

     使用准直器进行分析区域的设定/测定氛围气的设定（选购件）

     样品尺寸小时，使用准直器，则X射线只照射样品和被测区域，因此，不检测来自样品以处的X射线，提高S/N比。照射区域可选择为1，3，4，10mmφ改变照射区域X射线强度也随之变化。然而，本公司的软件由于可根据照射区域自动变换FP法的灵敏度系数，因此对任何直径准直器都可使用FP法。

     此外，为了能适合在大气测定时灵敏度下降的轻元素的分析，也可在氦气或真空氛围下进行测定。

4．使用样品图象观察组件观察测定位置（选购件）

测定异物时或测定样品的多个部位时，若使用样品图象观察组件，可通过确认CCD彩色图象而简单地设定分析的位置。

 5．采用适于特殊用途的大型样品室的机型

适于大型机械部件，电子材料电路板的电镀，薄膜部分以及美术品，成形加工品的分析。可无损分析超大形样品。

将标准型机种的样品室进一步大型化，变更为手动开关式。样品室为宽460mm,深380mm，高210mm的超大型样品室。

五．丰富多样的选购件

 1．微动载物台

使用选购件准直器自动交换机构，特别是选择1mm微小光圈时，通过与使用CCD彩色图象观察装置的样品观察机构相组合，便于样品的位置对准。

采用大型旋钮和XY轴调整机构，样品可顺畅移动，位置对准非常方便。样品座可以交换，载物台中央开口部最大可达70mm角。

 2．16样品转台（固体用）

连续测定32mmφ以下固体样品时使用的转台。特别是在He，真空氛围下测定时，可提高效率。

3．16样品转台（液体用）

   使用样品容器，最多可装16个液体/粉状样品，用于连续测定的转台。

4．8样品转台

   用于连续测定52mmφ以下大型样品的转台。

5．带旋转器的8样品转台

   分析不均匀的样品（矿物，食品，土壤等）时，样品边旋转边测定可求出平均信息。与旋转器用固体容器或旋转器用小型容器配合使用。

   6．小型样品盖

      连续测定小型样品时可缩短真空排气时间。

      样品形状：最大62mmφ×120mmH